使用便携式 X 射线荧光光谱分析仪(p-XRF),分别对铜镜镜背纹饰和镜面进行成分分析检测。仪器型号为德国布鲁克(Bruker)S1 TITAN 600,配备高性能微型陶瓷 X 射线管,铑靶,测试电压 50kV,电流200μA,探测器为 FAST SDD 硅漂移探测器,检测模式为金属模式,测试时间为30秒。检测地点为湖南博物院藏品保护中心分析检测室。检测数据保留两位小数,结果见表一。
由图三(4)可以看到,Sn 在整个检测区域内均有分布,但在有纹饰的位置明显更明亮,含量更高。图三(5)为调大明暗衬度后显示的图像,可以更明显看到在有纹饰的位置Sn 含量的富集。对比实物图与 Sn 元素分布图可以发现:实物图中白色越清晰浓厚的地方在元素分布图中越明亮,代表 Sn 元素在这些地方含量越高 ;实物图中白色越模糊、淡薄的地方,在元素分布图中越灰暗,代表 Sn元素在这些地方含量越低。所以,白色纹饰肯定与 Sn 有关。